X射線光譜分析過程中如何選擇測試條件

發(fā)布日期：2020-03-13 作者：點(diǎn)擊：

　　選擇測試條件是光譜分析過程中復(fù)雜關(guān)鍵的部分。適當(dāng)?shù)臏y試條件意味著能夠測量元素的PPM水平。為了達(dá)到佳的分析測試條件，須遵循兩個基本原則：X射線源須在被測元素的吸收峰上方有一個明顯的峰。 K線或L線的選擇取決于儀器的測量范圍。通常，更常用K線測量。X射線源的峰越接近待測元素的吸收峰，測試的強(qiáng)度和靈敏度（數(shù)值/秒/ PPM）越高。理想情況下，輻射源應(yīng)與要測量的元素的吸收峰一致，但這很難實(shí)現(xiàn)。另一個基本原理是在要測量的元素區(qū)域中小化X射線的背景噪聲。

　　但是，這兩個原則相互矛盾。通常，X射線探傷在高背景噪音時會達(dá)到高靈敏度，而在低背景噪音時則靈敏度差。此外，當(dāng)靈敏度高時，也可以達(dá)到佳的理論檢測極限；而當(dāng)背景噪聲低時，凈計(jì)數(shù)率提取，矩陣校正和長期穩(wěn)定性分析則好。因此，佳分析結(jié)果是在考慮儀器硬件的情況下，找到這兩個原理之間的佳平衡。

X射線探傷

　　X射線管發(fā)射的spectrum致輻射的光譜范圍從0到n千伏，其中n是射線管的工作電壓。 X射線管還會發(fā)射目標(biāo)的特征光譜線，因此如何選擇目標(biāo)是要看它是否能夠大程度地激發(fā)待測元素。由于X射線的強(qiáng)度通常與目標(biāo)元素的原子序數(shù)成正比，因此鎢靶通常具有高的強(qiáng)度。目標(biāo)可以是任何高熔點(diǎn)金屬，目標(biāo)的選擇通常包括Sc，Ti，Cr，F(xiàn)e，Co，Ni，Co，Y，Zr，Mo，Rh，Pd，Ag，W和Pt。

　　具有多個目標(biāo)的X射線管已應(yīng)用于光譜儀。操作員可以為要測量的不同元素選擇不同的目標(biāo)。選擇原則是目標(biāo)的特征線能量高于待測元素的吸收極限，并且至少是檢測器分辨率的半角寬度的2-3倍。如果沒有靶滿足上述要求，則可以選擇高原子序數(shù)以獲得大的X射線通量。

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