X射線探傷的原理有哪些？

(一)射線照相法 射線照相法是根據(jù)被檢工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度的不同，使得射線透過工件后的強(qiáng)度不同，使缺陷能在射線底片上顯示出來的方法。從x射線機(jī)發(fā)射出來的x射線透過工件時(shí)，由于缺陷內(nèi)部介質(zhì)對(duì)射線的吸收能力和周圍完好部位不一樣，因而透過缺陷部位的射線強(qiáng)度不同于周圍完好部位。把膠片放在工件適當(dāng)位置，在感光膠片上，有缺陷部位和無缺陷部位將接受不同的射線曝光。再經(jīng)過暗室處理后，得到底片。然后把底片放在觀片燈上就可以明顯觀察到缺陷處和無缺陷處具有不同的黑度。評(píng)片人員據(jù)此就可以判斷缺陷的情況。 

(二)射線熒光屏觀察法 熒光屏觀察法是將透過被檢物體后的不同強(qiáng)度的射線，再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上，激發(fā)出不同強(qiáng)度的熒光而得到物體內(nèi)部的影象的方法。 此法所用設(shè)備主要由x射線發(fā)生器及其控制設(shè)備﹑熒光屏﹑觀察和記錄用的輔助設(shè)備﹑防護(hù)及傳送工件的裝置等幾部分組成。檢驗(yàn)時(shí)，把工件送至觀察箱上，x射線管發(fā)出的射線透過被檢工件，落到與之緊挨著的熒光屏上，顯示的缺陷影象經(jīng)平面鏡反射后，通過平行于鏡子的鉛玻璃觀察。熒光屏觀察法只能檢查較薄且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的工件，同時(shí)靈敏度較差，高靈敏度在2%~3%，大量檢驗(yàn)時(shí)，靈敏度高只達(dá)4%~7%，對(duì)于微小裂紋是無法發(fā)現(xiàn)的。

 (三)射線實(shí)時(shí)成象檢驗(yàn) 射線實(shí)時(shí)成象檢驗(yàn)是工業(yè)射線探傷很有發(fā)展前途的一種新技術(shù)，與傳統(tǒng)的射線照相法相比具有實(shí)時(shí)，不用射線膠片、可記錄和勞動(dòng)條件好等顯著優(yōu)點(diǎn)。由于它采用x射線源，常稱為x射線實(shí)時(shí)成象檢驗(yàn)。國(guó)內(nèi)外將它主要用于鋼管、壓力容器殼體焊縫檢查;微電子器件和集成電路檢查;食品包裝夾雜物檢查及海關(guān)檢查等。 這種方法是利用小焦點(diǎn)或微焦點(diǎn)x射線源透照工件，利用一定的器件將x射線圖象轉(zhuǎn)換為可見光圖象，再通過電視攝象機(jī)攝象后，將圖象直接或通過計(jì)算機(jī)處理后再顯示在電視監(jiān)視屏上，以此來評(píng)定工件內(nèi)部的質(zhì)量。通常所說的工業(yè)x射線電視探傷，是指x光圖象增強(qiáng)電視成象法，該法在國(guó)內(nèi)外應(yīng)用廣泛，是當(dāng)今射線實(shí)時(shí)成象檢驗(yàn)的主流設(shè)備，其探傷靈敏度已高于2%，并可與射線照相法相媲美。

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